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TK

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SNEN 61745:2017(F)X

Numero di norma
DV-30398/3
Editore
CLC
Comitato Tecnico
TK 86
numero di pagine
2
Prezzo
22.60 CHF
IEC di riferimento
IEC 61745:2017
Anno di pubblicazione
2017
Data di ratifica (DOR)
01.09.2017
Data di recesso (DOW)
01.09.2020
Norm titolo tedesco
Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern
Norm titolo inglese
End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets
Norm titolo francese
Procédure d'analyse d'image d'extrémité pour l'étalonnage de dispositifs d'essais de géométrie des fibres optiques

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