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Editore

TK

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IEC-PAS 62162:2000(E)

Numero di norma
DV-10627/1
Editore
IEC
Comitato Tecnico
TK 47
numero di pagine
7
Prezzo
21.55 CHF
Anno di pubblicazione
2000
Norm titolo inglese
Field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components

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