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SNEN 61745:2017(F)X

Numéro de norme
DV-30398/3
Editeur
CLC
Comité technique
TK 86
Nombre de page
2
Prix
22.60 CHF
Référence de la CEI
IEC 61745:2017
Année de publication
2017
Date de ratification (DOR)
01.09.2017
Date de retrait (DOW)
01.09.2020
Norm titre allemand
Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern
Norm titre anglais
End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets
Norm titre français
Procédure d'analyse d'image d'extrémité pour l'étalonnage de dispositifs d'essais de géométrie des fibres optiques

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