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TK

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IEC-PAS 62162:2000(E)

Numéro de norme
DV-10627/1
Editeur
IEC
Comité technique
TK 47
Nombre de page
7
Prix
21.55 CHF
Année de publication
2000
Norm titre anglais
Field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components

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