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Herausgeber

TK

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SNEN 61745:2017(F)X

Normnummer
DV-30398/3
Herausgeber
CLC
Zuständiges nationales TK
TK 86
Anzahl Seiten
2
Preis
22.60 CHF
IEC-Referenz
IEC 61745:2017
Erscheinungsjahr
2017
Datum der Ratifizierung (DOR)
01.09.2017
Datum der Zurückziehung (DOW)
01.09.2020
Norm-Titel Deutsch
Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern
Norm-Titel Englisch
End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets
Norm-Titel Französisch
Procédure d'analyse d'image d'extrémité pour l'étalonnage de dispositifs d'essais de géométrie des fibres optiques

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