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Typ

Herausgeber

TK

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IEC 60749-14:2003(E/F)

Normnummer
DV-13739/1
Herausgeber
IEC
Zuständiges nationales TK
TK 47
Anzahl Seiten
27
Preis
338.25 CHF
Erscheinungsjahr
2003
Norm-Titel Englisch
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Norm-Titel Französisch
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 14: Robustesse des sorties (integrité des connexions)

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