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Herausgeber

TK

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SNEN 60749-1:2003(E)X

Normnummer
DV-13598/1
Herausgeber
CLC
Zuständiges nationales TK
TK 47
Anzahl Seiten
3
Preis
19.40 CHF
IEC-Referenz
IEC 60749-1:2002
Erscheinungsjahr
2003
Datum der Ratifizierung (DOR)
24.09.2002
Ersetzte Normnummer
EN 60749:1999
Datum der Zurückziehung (DOW)
01.10.2005
Norm-Titel Deutsch
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 1: Allgmeines
Norm-Titel Englisch
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 1: General
Norm-Titel Französisch
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques. Partie 1: Généralités

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