Raster-Kraft-Mikroskope im täglich industriellen und akademischen Einsatz
Dominik Brändlin, Head of Development, Nanosurf AG, Liestal

In modernen Produkte werden immer mehr Komponenten eingesetzt, welche Teile mit Oberflächenbehandlung oder mit Materialzusätze enthalten. Als Beispiele sind zu Nennen: Nanopartikel, dünne Schichten oder feine Polituren. Alle diese Teile oder Behandlungen müssen erst in Labors entwickelt werden und dann in der Produktion laufend in Ihrer Qualität überprüft werden. Für diese Untersuchungen wird immer mehr das Raster-Kraft-Mikroskop (AFM) eingesetzt. Der Vortrag zeigt aktuelle Anwendungsbeispiele auf.

Stichworte
Bauformen aktueller AFM für Labor und QC, einfache Handhabung, industrielle Anwendungen, Ausbildung von Studenten